1. Stor kinesisk LCD-skjerm: Instrumentet har en stor-skjerm (105 mm × 65 mm) kinesisk menygrensesnitt. Skjermen er delt inn i to deler: venstre side viser funksjonsmenyen, og høyre side viser relevante statusinformasjon. Hvert trinn vises tydelig, slik at operatører kan bruke instrumentet uten profesjonell opplæring. En enkelt operasjon lar mikrodatamaskinen automatisk fullføre hele måleprosessen, noe som gjør den til en ideell måleenhet for dielektrisk tap.
2. Massiv datalagring: Instrumentet er utstyrt med en kalenderbrikke og et minne med stor-kapasitet, noe som muliggjør lagring av testresultater i kronologisk rekkefølge. Historiske poster kan vises når som helst, og utdata kan skrives ut.
3. Vitenskapelig og avansert databehandling: Instrumentdata kan eksporteres via USB-flash-stasjon og vises og administreres på hvilken som helst PC ved å bruke selskapets dedikerte programvare, som også kan generere arbeidsrapporter.
4. Flere testmoduser: Instrumentet kan utføre tester ved hjelp av ulike metoder, inkludert intern høyspenning, ekstern høyspenning, intern standard, ekstern standard, positiv tilkoblingsmetode, omvendt tilkoblingsmetode og selv-eksiteringsmetode. Under eksterne standard og eksterne høyspenningsforhold kan den utføre høy-dielektrisk tapsmåling (større enn 10 kV).
5. Ett-CVT-testing
Dette instrumentet kan også teste det dielektriske tapet og kapasitansen til fullstendig forseglet CVT (Capacitive Voltage Transformer) C1 og C2, og oppnå samtidig testing av C1 og C2. Den kan også teste CVT-dreieforholdet og spenningsvinkelforskjellen.
6. Høyhastighetssignalsampling.-
Den interne omformeren og samplingskretsen er alle digitalt styrt, med kontinuerlig justerbar utgangsspenning.
7. Flere beskyttelser for sikkerhet og pålitelighet
Instrumentet har flere beskyttelsestiltak mot inngangsspenningssvingninger, utgangskortslutninger, overspenning, overstrøm og temperatur, noe som sikrer sikkerhet og pålitelighet. Den har også en jordingsdeteksjonsfunksjon for å sikre at ujordet utstyr ikke får øke spenningen.
